手机版 |
产品分类 |
光学仪器及设备
EM科特Genesis钨灯丝扫描电镜
EM科特Veritas钨灯丝扫描电镜
EM科特台式扫描电镜
EM科特CUBE II Plus桌面扫描电镜
EM科特台式扫描电镜CUBE II
das·nano太赫兹时域光谱仪ONYX
德国徕卡偏光显微镜DM2700P
德国徕卡偏光显微镜DM750P
Leica DM4 P正置偏光显微镜
Leica DCM8白光共聚焦干涉显微镜
光谱检测分析仪
日立OE750台式光谱仪
FM EXPERT直读光谱仪
手持式激光诱导击穿光谱仪(LIBS)—Vulcan
日立移动式直读光谱仪PMP
日立便携式直读光谱仪PMS
日立落地式直读光谱仪FMP
日立台式直读光谱仪FMS/FMO
试验机
英斯特朗电子材料试验机3300系列
英斯特朗电子材料试验机5900系列
无损检测/无损探伤仪器
纳米CT微焦点高分辨率X射线显微镜/成像系统
X射线CT断层扫描系统
X射线仪器
日立手持式X射线荧光光谱仪X-MET8000
联系方式 |
产品系列
产品描述
Leica EM RES102 通过离子枪激发获得离子束,以一定入射角度对样品进行轰击,以去除样品表面原子,从而实现对样品的离子束加工。Leica EM RES102主要功能为:对无机薄片样品进行离子减薄,使得薄片样品可被透射电子穿过,从而适宜TEM透射电子显微镜观察;对无机块状样品进行离子束抛光、离子束刻蚀,样品表面离子清洗及斜坡切割,便于SEM扫描电子显微镜观察样品内部结构信息
特点
? 具有2把离子枪,离子束能量为0.8keV-10keV,相对位置,可分别±45°倾斜,样品台倾斜角度-120°至210°,离子束加工角度0°至90°,样品平面摆动角度<360°,垂直摆动距离±5mm。实际操作参数根据具体应用需要选择(系统备有参考参数,也可自行设置参数并存储)
? 可选配样品台:TEM样品台(?3.0mm或?2.3mm),FIB样品清洗台,SEM样品台,斜坡切割样品台(对样品35°或90°斜坡切割)等
? SEM样品台可容纳样品尺寸:直径25mm,高度12mm
? 全无油真空系统,样品室带有预抽室,保证样品交换时间<1分钟
? 全电脑控制,触摸屏操作界面,内置视频观察系统,可实时观察样品处理过程