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产品描述
石墨烯和2D材料表征
Onyx是市场上设计用于提供石墨烯、薄膜和其他2D材料的全区域非破坏性表征的系统。
Onyx弥补宏观工具和纳米工具之间的空白,可以检测从0.5 mm2到大面积(m2)的特征,从而增强研究材料的工业化水平。与其他大面积测试方法(例如四探针方法)相比,Onyx能够测量样品质量的空间分布。与显微方法(例如拉曼,SEM和TEM)不同,可以数百微米的空间分辨率快速表征大面积的样品。
Onyx是一种超快速系统,用于石墨烯,2D材料样品或复杂涂层的大面积表面的非破坏性均匀性分析。
Onyx涵盖了目前用于研究材料表征的宏观尺度方法(光学显微镜,直流电导率......)和纳米尺度方法(拉曼共聚焦光谱,AFM,TEM ......)之间的差距。
该系统基于das-Nano专有的**方法,通过单面(正反射)检测提供任何材料的整个区域的电导,电阻,折射率,厚度和介电参数。结果是提供沉积均匀性的图,并因此评估材料的整个区域生产的质量。该技术将使研究界提高其工作的效率和功效,从而缩短产品和应用的上市时间。此外,该技术可以在线实施,因此,在相同的评估方法中可以在未来的产品制造阶段中使用
移动性和载流子密度
Onyx不断改进其功能,以提供新结果,从而极大地提高其潜力。Onyx将移动性和载流子密度分析合并到其先前的功能中。仅在一次测量中,该系统即可精确提供以下物理属性:直流电导,σDC、直流电阻,RDC、载流子散射时间、载流子迁移率,μ漂移