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光学仪器及设备
EM科特Genesis钨灯丝扫描电镜
EM科特Veritas钨灯丝扫描电镜
EM科特台式扫描电镜
EM科特CUBE II Plus桌面扫描电镜
EM科特台式扫描电镜CUBE II
das·nano太赫兹时域光谱仪ONYX
德国徕卡偏光显微镜DM2700P
德国徕卡偏光显微镜DM750P
Leica DM4 P正置偏光显微镜
Leica DCM8白光共聚焦干涉显微镜
光谱检测分析仪
日立OE750台式光谱仪
FM EXPERT直读光谱仪
手持式激光诱导击穿光谱仪(LIBS)—Vulcan
日立移动式直读光谱仪PMP
日立便携式直读光谱仪PMS
日立落地式直读光谱仪FMP
日立台式直读光谱仪FMS/FMO
试验机
英斯特朗电子材料试验机3300系列
英斯特朗电子材料试验机5900系列
无损检测/无损探伤仪器
纳米CT微焦点高分辨率X射线显微镜/成像系统
X射线CT断层扫描系统
X射线仪器
日立手持式X射线荧光光谱仪X-MET8000
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产品系列
产品描述
CT-COMPACT nano超高分辨率可到达亚微米级,强大的功能性可以提供原位/4D 解决方案。与传统的层析成像相比,CT-COMPACT nano纳米分辨率不受样本大小的限制,实现0.4μm的超高分辨率,适用于材料科学、半导体、石油、天然气、生命科学等领域。
CT-COMPACT nano是以复杂并且容易改变的目标来运作。无匹配的系统架构与典型的ProCon X-Ray设计相结合,为您提供了一个方便、高效的系统。通过亚微米分辨率和**的对比度实现高品质的扫描结果。
特征
·操作简便
·非接触式计量
·兴趣量 - 扫描
·质量控制独立于材料
·缺陷识别(空洞,裂缝......)
·不同的重建算法过滤反投影,代数,统计
·多个扫描轨迹Circular,Helix,Planar等等
·许多扫描轨迹的视野扩展
·体积缩放(Hounsfield)
·环形伪像抑制和降噪算法
·光束硬化校正和金属伪影减少
·用于漂移补偿的抖动校正
·相位和暗场对比度选项
·用于编写脚本的Matlab / Python / Labview界面
·批处理和扫描计划
·时间分辨CT扫描(4D CT)
·原位选项
·实时CT重建
·使用Flat- panel探测器快速扫描<10秒
·“Industriepreis 2018” - 获奖者