石墨烯和2D材料表征

Onyx是市场上设计用于提供石墨烯、薄膜和其他2D材料的全区域非破坏性表征的系统。

Onyx弥补宏观工具和纳米工具之间的空白，可以检测从0.5 mm²到大面积（m²）的特征，从而增强研究材料的工业化水平。与其他大面积测试方法（例如四探针方法）相比，Onyx能够测量样品质量的空间分布。与显微方法（例如拉曼，SEM和TEM）不同，可以数百微米的空间分辨率快速表征大面积的样品。

Onyx是一种超快速系统，用于石墨烯，2D材料样品或复杂涂层的大面积表面的非破坏性均匀性分析。

Onyx涵盖了目前用于研究材料表征的宏观尺度方法（光学显微镜，直流电导率......）和纳米尺度方法（拉曼共聚焦光谱，AFM，TEM ......）之间的差距。

该系统基于das-Nano专有的**方法，通过单面（正反射）检测提供任何材料的整个区域的电导，电阻，折射率，厚度和介电参数。结果是提供沉积均匀性的图，并因此评估材料的整个区域生产的质量。该技术将使研究界提高其工作的效率和功效，从而缩短产品和应用的上市时间。此外，该技术可以在线实施，因此，在相同的评估方法中可以在未来的产品制造阶段中使用

移动性和载流子密度

Onyx不断改进其功能，以提供新结果，从而极大地提高其潜力。Onyx将移动性和载流子密度分析合并到其先前的功能中。仅在一次测量中，该系统即可精确提供以下物理属性：直流电导，σDC、直流电阻，RDC、载流子散射时间、载流子迁移率，μ漂移